Le microscopie a scansione di sonda: dalla visualizzazione degli atomi di superficie alla comprensione dei nuovi materiali

Sede di Genova

La possibilità di sondare la materia attraverso tecniche microscopiche avanzate, capaci di risolverne i costituenti elementari (atomi, molecole…) e di esplorare il legame profondo fra struttura microscopica e proprietà macroscopiche, rappresenta un obiettivo affascinante e fondamentale per gli scienziati di tutti i tempi. Offre altresì un orizzonte per lo sviluppo di nuovi strumenti, dotati di risoluzioni sempre più elevate o capaci di operare in condizioni estreme (ad esempio in ultra-alto-vuoto o a temperature di pochi milliKelvin). Le microscopie a scansione di sonda - in particolare il microscopio a forza atomica AFM ed il microscopio ad effetto tunnel STM - rappresentano una famiglia di tecniche microscopiche che ha rivoluzionato la ricerca scientifica dell’ultimo trentennio. Il seminario descrive i principi alla base del loro funzionamento ed illustra gli straordinari contributi offerti da tali tecniche, dalla visualizzazione di atomi e molecole di superficie allo studio delle proprietà meccaniche, elettriche e termiche di nano materiali e materiali avanzati, fino all’indagine di nuovi effetti e stati quantistici della materia.

Renato Buzio - Andrea Gerbi